台灣傑睦 JEM-TAIWAN
產品
Vertical Type Probe Card - VC Series
電洽
彎曲應力結構之探針卡。適用於全部的12吋晶圓測試。
VC系列為最適合使用於快閃記憶體測試之探針卡。
1.使用合金探針可與Au pad的接觸更加穩定
2.全pad均一的小針痕
3.適用大範圍之溫度檢測(低溫至高溫)
4.多元化應用可降低測試成本
5.適用小pitch排列
Specifications [for memory, MCU, smartcard]
| Pitch (um) | 90 |
| Pad size(um) | 65×65（PA300） |
| Number of pins | 15K |
| Probing area(mm) | Φ300 |
| Contact Force (gf/mil) | 0.7 |
| Max OD (um) | 180 |
| Temperature range(℃) | -30~85（PA300） |
| 25~125（PA300） | |
| 150（PA300） | |
| Max. DC current (A) CCC | 0.4 |
| Frequency(Gbps) | 0.65 |
