台灣傑睦 JEM-TAIWAN
產品
MEMS Type Probe Card -MC Series
電洽
結合MEMS(微機電系統)技術與多層薄膜配線技術所組成之微機電式探針卡。
適用於全部的12吋晶圓測試。
MC系列為最適合使用於DRAM及NAND型快閃記憶體測試之探針卡。
1.
全pad均一的小針痕，使接觸穩定
2.
縮短測試時間可降低成本
3.
兼具高耐電流與高耐磨性之效能
4.
適用大範圍之溫度檢測(低溫至高溫)
Specifications [for full‐wafer memory probing]
| Pitch (um) | 60 |
| Pad size(um) | 45X55 |
| Number of pins | 150K |
| Probing area(mm) | Φ300 |
| Contact Force (gf/mil) | 0.7 |
| Max OD (um) | 120 |
| Temperature range(℃) | -40/125 |
| Max. DC current (mA) CCC | 600 |
| Frequency(Gbps) | 2 |
