台灣傑睦 JEM-TAIWAN
產品
Cantilever Epoxy Type Probe Card -CE Series
電洽
單樑構造懸臂式探針卡。
CE系列為可因應從半導體元件到應用處理器(AP)等各種邏輯IC測試使用上最適
合的探針卡。
1.
使用合金探針可與Au pad的接觸更加穩定
2.
低針壓、低磨損可降低pad下的微結構損傷
3.
清針頻率較低可減少針長損耗
4.
多元化應用可降低測試成本
5.
適用小pitch排列(單排、千鳥排列)
Specifications [Au bumps for LCD drivers]
| Pitch (um) | 20 |
| Pad size(um) | 12x40 |
| Number of pins | 3K |
| Probing area(mm) | 100 |
| Contact Force (gf) | 0.3 |
| Max OD (um) | 50 |
| Temperature range(℃) | 150 |
| Max. DC current (A) CCC | 0.4 |
| Frequency(Gbps) | 2.5 |
