MEMS Type Probe Card -MC Series
微機電式探針卡產品應用與特色 -MC Series
Probe Card -MC
結合MEMS(微機電系統)技術與多層薄膜配線技術所組成之微機電式探針卡。
適用於全部的12吋晶圓測試。
MC系列為最適合使用於DRAM及NAND型快閃記憶體測試之探針卡。
Pitch (um) | 60 |
Pad size(um) | 45X55 |
Number of pins | 150K |
Probing area(mm) | Φ300 |
Contact Force (gf/mil) | 0.7 |
Max OD (um) | 120 |
Temperature range(℃) | -40/125 |
Max. DC current (mA) CCC | 600 |
Frequency(Gbps) | 2 |