Vertical Type Probe Card - VT Series
垂直式探針卡產品應用與特色
Probe Card - VT
懸臂樑式探針卡在四邊排列的多Multi測試時會因為本身結構因素,而有設計上DUT的限制。
但若採用VT系列之垂直式機構,則可解決DUT的限制並可提高電性特性。
VT系列探針卡是專門設計來對應Logic device的多Multit測試,及對應四邊排列的小pitch pads
Pitch (um) | 50 |
Pad size(um) | 38 |
Number of pins | 10K |
Probing area(um) | 60x60 |
Contact Force (gf) | 2 |
Max OD (um) | 100 |
Temperature range(℃) | XP2:-40/175 |
XP3:-40/125 | |
Max. DC current (A) CCC | XP2:0.245 |
XP3:0.375 | |
Frequency(Gbps) | 0.75 |