主要商品/服務項目1. 探針卡(PROBE CARD)之製作及銷售。 2. 電子零件、半導體零件、測試、治具、測試材料及其機器設備之研究開發製造加工買賣及進出口業務。3. 前各項有關產品之代理經銷及進出口業務。
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公司介紹2
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產品介紹

敬邀參觀2023國際半導體展 || SEMICON Taiwan 2023 9/6-9/8 || Booth #K2172

MEMS Type Probe Card -MT Series

微機電式探針卡產品應用與特色-MT Series

  • 編號:

    Probe Card -MT

規格與說明:

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結合MEMS(微機電系統)技術與多層薄膜佈線技術所組成之微機電式探針卡。
採用垂直型MEMS探針可適用小pitch的矩陣排列。
MT系列是最適合用來做覆晶式封裝測試的探針卡。


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1.
採用MEMS探針的垂直型探針卡
2.
適用小pitch矩陣排列(area array layout)
3.
也適用於銅柱(Copper Pillar)封裝前的測試
4.
可對應高電流量
5.
以低針壓穩定接觸
6.
可更換探針

Specifications [for Cu pillar / Solder Bump]

Pitch (um) 70/120
Pad size(um) -
Number of pins 30K
Probing area(mm) 75x75
Contact Force (gf) 1.7/5.7
Max OD (um) 120/200
Temperature range(℃) -40/125
Max. DC current (A) CCC 1.0/1.0/1.3
Frequency(Gbps) 8 (*Loop back)
 


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