主要商品/服務項目1. 探針卡(PROBE CARD)之製作及銷售。 2. 電子零件、半導體零件、測試、治具、測試材料及其機器設備之研究開發製造加工買賣及進出口業務。3. 前各項有關產品之代理經銷及進出口業務。 謝謝!!
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商品介紹
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Vertical Type Probe Card - VS Serie3
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Vertical Type Probe Card - VS Serie

垂直式探針卡產品應用與特色- VS Serie




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使用微彈簧針的垂直式探針卡對應覆晶封裝檢測(Flip chip)。

VS系列為最適合使用於覆晶式封裝及晶圓級晶片尺寸封裝(WLCSP)

檢測的探針卡。


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1.使用微型彈簧探針

2.可選擇探針頭之樣式(皇冠型頭、平頭、尖頭)

3.可單獨更換1 pin探針

4.矩陣排列探針可對應多點測試

5.可對應未搭載銅柱凸塊(Cu Pillar)的pad contact

6.可拆裝式探針針組

Specifications [for bumps, Cu pillars, pads]

Pitch (um) 150
Pad size(um) 50x50
Number of pins 30K
Probing area(mm) 50x50
Contact Force (gf)

4.6@OD=100um
5.1@OD=150um

Max OD (um) 180
Temperature range(℃) -40/125
Max. DC current (A) CCC 1.1
Frequency(Gbps) 0.75

 

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