主要商品/服務項目1. 探針卡(PROBE CARD)之製作及銷售。 2. 電子零件、半導體零件、測試、治具、測試材料及其機器設備之研究開發製造加工買賣及進出口業務。3. 前各項有關產品之代理經銷及進出口業務。 謝謝!!
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MEMS Type Probe Card -MC Series3
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MEMS Type Probe Card -MC Series

微機電式探針卡產品應用與特色 -MC Series

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結合MEMS(微機電系統)技術與多層薄膜配線技術所組成之微機電式探針卡。
適用於全部的12吋晶圓測試。

MC系列為最適合使用於DRAM及NAND型快閃記憶體測試之探針卡。

 

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1.
全pad均一的小針痕,使接觸穩定
2.
縮短測試時間可降低成本
3.
兼具高耐電流與高耐磨性之效能
4.
適用大範圍之溫度檢測(低溫至高溫)

Specifications [for full‐wafer memory probing]

Pitch (um) 60
Pad size(um) 45X55
Number of pins 150K
Probing area(mm) Φ300
Contact Force (gf/mil) 0.7
Max OD (um) 120
Temperature range(℃) -40/125
Max. DC current (mA) CCC 600
Frequency(Gbps) 2



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