Vertical Type Probe Card - VC Series
垂直式探針卡產品應用與特色 - VC Series
Probe Card - VC
彎曲應力結構之探針卡。適用於全部的12吋晶圓測試。
VC系列為最適合使用於快閃記憶體測試之探針卡。
Pitch (um) | 90 |
Pad size(um) | 65×65(PA300) |
Number of pins | 15K |
Probing area(mm) | Φ300 |
Contact Force (gf/mil) | 0.7 |
Max OD (um) | 180 |
Temperature range(℃) | -30~85(PA300) |
25~125(PA300) | |
150(PA300) | |
Max. DC current (A) CCC | 0.4 |
Frequency(Gbps) | 0.65 |