產品介紹
Vertical Type Probe Card - VT Series
垂直式探針卡產品應用與特色
- 商品分類: Vertical Type Probe Card VT
- 編號: Probe Card - VT
規格與說明:
懸臂樑式探針卡在四邊排列的多Multi測試時會因為本身結構因素，而有設計上DUT的限制。
但若採用VT系列之垂直式機構，則可解決DUT的限制並可提高電性特性。
VT系列探針卡是專門設計來對應Logic device的多Multit測試，及對應四邊排列的小pitch pads
1.
針痕較小
2.
可對應多種pad配置
3.
適用小pitch排列
4.
適用大範圍之溫度檢測(低溫至高溫)
5.
提供穩定Contact於Au pad
6.
可單獨更換1 pin探針
Specifications [fine‐pitch peripheral PAD]
| Pitch (um) | 50 |
| Pad size(um) | 38 |
| Number of pins | 10K |
| Probing area(um) | 60x60 |
| Contact Force (gf) | 2 |
| Max OD (um) | 100 |
| Temperature range(℃) | XP2：-40/175 |
| XP3：-40/125 | |
| Max. DC current (A) CCC | XP2：0.245 |
| XP3：0.375 | |
| Frequency(Gbps) | 0.75 |
