JEM TAIWAN 2023 SWTest Asia
JEM非常榮幸參與2023 SWTest Asia展覽。此次展覽我們不僅提升了JEM在客戶中的知名度，更與來自世界各地的半導體測試業者交流、學習，這對JEM而言是難得的寶貴經驗。JEM已在台默默深耕30年之久，我們堅守初衷，以品質至上的精神服務客戶，因此贏得眾多客戶的信賴與品質保證。客戶長期以來的支持與鼓勵是JEM前進的最大動力，驅使我們不斷研發新技術，追求創新與突破。本次展出JEM Taiwan嶄新技術 MEMS 50,000 pins的High Pin Count Logic Probe Card， JEM專業的Probe Card機構團隊打破晶圓測試上遭遇的困境，與客戶攜手合作，成為客戶堅強的後盾，一同應對晶圓測試市場多變的需求。我們期待能透過這次展覽，與業界夥伴深化合作，共同迎接未來的挑戰。
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JEM在周天星總經理帶領下屢創佳績，此次參展不僅展現JEM在台灣奠定的深厚技術實力，也同時將JEM的產品和技術宣揚國際，使JEM在國際上嶄露頭角、發光發熱。
JEM承諾將會帶著眾多客戶的支持與信任勇往直前，持續精進，創造更符合半導體測試領域的產品和解決方案。再次感謝本次前來參展的客戶，您們的鼓勵帶給JEM滿滿的信心，未來再讓我們攜手同行，共創半導體榮景!我們2024 SWTest見!
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