2019年 經濟日報新聞報導(二)
JEM探針卡 晶片微小化檢測利器
台灣傑睦（JEM）今年推出新產品MEMS的PROBE CARD，此探針卡產品主要應用在未來晶片的微小化測試上，可以降低測試成本、增加測試效率、更是全球唯一從設計到製造一貫化生產、以確保品質穩定性、滿足客人需求的產品。
台灣傑睦總經理周天星表示，JEM在台灣深耕多年，擁有優秀的設計工程師與技術支援工程師團隊，負責設計新型高效率探針卡、 Repeat／全pin卡片規格複查、支援探針卡技術、和客戶共同評估客戶的產品規格以及技術開發、基板設計等，還積極協同客戶端測試支援等。
JEM在今年台北國際半導體展，展出明星級產品VT及全系列垂直式的探針卡。高階探針卡VT，一直以來是半導體業界的良率助力，這是唯一可測試出-40度至175度的雙溫卡片，一片要價高達20～30萬美元，測試速度效率非常高，可為產業省下可觀的測試機台及龐大的人力成本。
至於新產品「微機電（MEMS）製程技術探針卡PROBE CARD」，主要是利用High Multi Share（PI／SI）技術，預先模擬出測試參數與結果，以提高積體電路測試的同測效率與準確性，並改善積體電路測試的良率，有效降低測試前開發成本，以及量產後的生產成本。且此產品可運用在AP、FPGA、AI的晶片測試上，更是符合未來晶圓測試的趨勢。
產品可分兩種，1、「MT-Point Type」：40～50微米的微小間距，合併低針壓特性，適用於LOW-K產品測試。2、「MT-Flat Type」：70微米的微小間距，與卓越的材料特性選用，適用於高電流產品應用。另外，還有運用在HPC上的「VS-Pogo Pin」，全陣列設計對應150微米的Flip Chip（FC）間距，在相同的晶片尺寸上支援高腳數測試。